測(cè)試功能:1、短路、斷路、導(dǎo)通不良、低壓絕緣不良、高壓絕緣不良、跳火花、瞬間短/斷路、單端測(cè)試、循序測(cè)試2、開(kāi)機(jī)時(shí)，全機(jī)可自我偵測(cè)，并包含治具短路、絕緣不良測(cè)試。3、測(cè)試資料可經(jīng)記憶體保留15天以上。4、強(qiáng)大多功能的軟/硬體設(shè)計(jì)，可測(cè)試單頭、雙頭回路、多頭回路及復(fù)雜回路產(chǎn)品。主要參數(shù)：1）直流電壓：5V～650V/5V～1000V2）導(dǎo)通阻抗：0.1Ω～50KΩ 3）絕緣阻抗：500K～500MΩ4）測(cè)試點(diǎn)數(shù)：64點(diǎn)、128點(diǎn)、256點(diǎn)、512點(diǎn)