用途：用於電腦，終端機(jī)、電源供應(yīng)器，電子交換機(jī)等微電子電路元件壽命試驗，爲(wèi)早期發(fā)現(xiàn)不良品之移除，提高産品的可靠性，爲(wèi)控制成本和保證産品成本之有效設(shè)備。 特性：內(nèi)容積可任意放大、縮小，隨使用者環(huán)境需求而設(shè)計組合式庫板，拆裝方便，結(jié)構(gòu)簡單。特殊強(qiáng)制送風(fēng)迴圈設(shè)計，可避免箱內(nèi)的氧流死角，減少試驗室內(nèi)的溫差而對試樣的影響，同時能做到高均勻度的要求。寬敞明亮之視窗，讓使用者可隨時觀測試驗箱內(nèi)的狀況。特殊之進(jìn)風(fēng)、排風(fēng)設(shè)計可抑制測試産品之發(fā)熱量而升溫被測産品之電源自動通斷時序控制器及周邊配套設(shè)備（選配）。