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新型Millitrac顆粒圖像分析儀

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規(guī) 格: 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 
單 價: 面議 
起 訂:  
供貨總量: 99999
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 浙江 寧波市
有效期至: 長期有效
更新日期: 2010-09-26 09:00
瀏覽次數(shù): 0
詢價
公司基本資料信息
 
 
 
【新型Millitrac顆粒圖像分析儀】詳細(xì)說明
技術(shù)參數(shù)測量范圍:90-13,200 m測量技術(shù):單色CCD圖像分析技術(shù)重復(fù)性:誤差 1.5%,分析精度:30通道掃描速度:60循環(huán)/10秒測量時間:1-9,999秒,用戶可選直接干粉進(jìn)樣分析,樣品可回收實時圖像處理,操作直觀方便報告形式:體積/數(shù)量粒度分布,等效圓形面積直徑,橢圓長短徑比,橢圓長/短軸長,圓度等 主要特點﹡專利Tri-Laser激光系統(tǒng),完全消除了不同波長光源對顆粒散射光分布 連接點 的影響和多次米氏理論(MieTheory)數(shù)學(xué)處理的誤差(米氏理論處理與波長有關(guān))。﹡固定多元檢測器與三激光光源的靈巧配置,無需掃描,同步接受全量程散射光信號,保證分析結(jié)果的高重現(xiàn)性及全量程范圍的高分辨率。﹡首家引進(jìn) 非球形 顆粒概念對米氏理論計算的校正因子,內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫,提高顆粒粒度分布測試的準(zhǔn)確性。﹡系統(tǒng)自動對光,內(nèi)置輔助光源用于檢驗和校正檢測器的靈敏度。﹡多種樣品分散系統(tǒng)可供選擇,各種分散系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換簡單方便,結(jié)果穩(wěn)定一致。﹡現(xiàn)代模塊式設(shè)計,可根據(jù)實際應(yīng)用需要允許選擇儀器的配置,以滿足將來的任何需要。﹡數(shù)據(jù)處理靈活方便,體積分布,數(shù)量分布和強(qiáng)度分布,微分與累計百分比以及其他綜合報告形式任意組合,數(shù)據(jù)存儲兼容性強(qiáng)。﹡NIST(NationalInstituteofStandards Technology)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)指定認(rèn)證儀器。 儀器介紹美國Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀,原理上采用經(jīng)典靜態(tài)光散射技術(shù)和全程米氏理論處理,利用現(xiàn)代模塊式設(shè)計理念,使用獲得專利的三激光光源技術(shù),配備超大角度雙鏡頭檢測系統(tǒng),以對數(shù)方式排列151個高靈敏度檢測單元,無需掃描,平行通道實時接受散射光信息,提供準(zhǔn)確可靠的測量信息。多種分散方式可選,干法與濕法測量之間的轉(zhuǎn)換,系統(tǒng)自動識別,方便快捷。S3500系列儀器完全符合ISO 13320-1粒度分析-激光衍射方法的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)及21 CFR PART 11 安全要求,并被榮幸地指定為NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)認(rèn)證儀器。
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