測(cè)試頻率12Hz~200kHz(504steps)基本準(zhǔn)確度0.1%測(cè)試電壓5mV~1.275V(5mV/step)直流位準(zhǔn)外部2V 內(nèi)部0~35V顯示范圍串/并聯(lián)等效阻抗R0.00001Ω~99999kΩ電容C0.00001pF~99999μF電感L0.00001mH~99999H品質(zhì)因素Q0.0001~9999散逸因素D0.0001~9999阻抗|Z|0.00001Ω~99999kΩ相位(Degree)θ-180.00°~180.00°量測(cè)模式 R/Q,C/D,C/R,L/Q,Z/θ,L/R等效電路具串聯(lián)與并聯(lián)兩種方式可供選擇記憶體 100組平均測(cè)試值 1~255次量測(cè)速度SLOW,MEDIUM以及FAST