Keithley4500-MTS型多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn): 4至36個(gè)源－測(cè)量通道 程控激勵(lì)源，可達(dá):10V@10mA或1A@6V 支持多達(dá)8組獨(dú)立通道進(jìn)行并行測(cè)試 實(shí)時(shí)的并行多通道源－測(cè)量序列 快速測(cè)量，積分速率可低至0.002PLC 簡單方便的并行I-V掃描 開放的PC/PCI架構(gòu)將軟件、硬件輕松集成于一體 優(yōu)化的測(cè)試開發(fā)環(huán)境軟件 Windows2000系統(tǒng)，并帶以太網(wǎng)口 測(cè)試應(yīng)用程序可在遠(yuǎn)程PC或4500-MTS上開發(fā)并執(zhí)行4500-MTS型多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)是一種專門針對(duì)高速并行測(cè)試而優(yōu)化設(shè)計(jì)的直流源-測(cè)量測(cè)試系統(tǒng)。這種多通道系統(tǒng)最多可支持36個(gè)源-測(cè)量通道，同時(shí)能夠自動(dòng)管理一些復(fù)雜的通道協(xié)同任務(wù)，例如通道間觸發(fā)與通信等。此外，4500-MTS不再需要配置外部觸發(fā)控制與儀器通信總線，從而降低了系統(tǒng)的復(fù)雜性。應(yīng)用 多點(diǎn)并行測(cè)試，包括： 圓片級(jí)HiBLED 光集成電路 MEMS/MOEMS壽命測(cè)試 在RFIC測(cè)試中用作智能電源系統(tǒng) 圓片與封裝級(jí)VCSEL測(cè)試 激光二極管特性分析 多節(jié)可調(diào)激光二極管測(cè)試 半導(dǎo)體可靠性測(cè)試