該沖擊試驗箱為待測品靜置制冷，熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零部件測試，半導(dǎo)體，電子線路板，金屬化學(xué)，材料等測試設(shè)備。試驗箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件(待測品)放置在試驗箱中部，高溫沖擊時，上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。如有需要，還可以與環(huán)境溫度連通(通過后風(fēng)門打開來實現(xiàn))形成三箱法試驗。序號