測(cè)試產(chǎn)品耐久之壽命試驗(yàn)。Notebook測(cè)試規(guī)格:磁碟片插入、退出試驗(yàn)。光碟機(jī)插入、退出試驗(yàn)。PCMCIA插入、退出試驗(yàn)。電池插入、退出試驗(yàn)。各種接頭插入、退出試驗(yàn)。(PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等)桌面放落試驗(yàn)。手機(jī)測(cè)試規(guī)格：天線上、下抽取試驗(yàn)。天線彎曲試驗(yàn)。電池插入、拔出試驗(yàn)。連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。ON、OFF開關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。短距離落下壽命試驗(yàn)。SIM卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。PDA測(cè)試規(guī)格：CF卡插拔耐久試驗(yàn)。Battery蓋插、拔耐久試驗(yàn)。DC插頭耐久試驗(yàn)。連接器插、拔耐久試驗(yàn)。筆插拔耐久試驗(yàn)。觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼?yàn)。ON、OFF開關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。