TR518FE 其主要特性在于測試 速度較傳統(tǒng) ICT 快一倍以上。 此外，更具有可程序化開短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測物之測試特性。對于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程，無疑是一臺抵兩臺的選擇，無論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。 計算機(jī)自動學(xué)習(xí)并自動產(chǎn)生，開 / 短路、 Pin Information 及 IC 保護(hù)二極管之測試程序。 可網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)，并結(jié)合數(shù)據(jù)庫管理及測試站監(jiān)控程序。 Board View功能可實(shí)時顯示不良組件、針點(diǎn)之位置，方便檢修。大型主機(jī)設(shè)計，高密度SwitchingBoard，最高可達(dá)3584測試點(diǎn)。應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測BGA開路空焊問題。