本儀器是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要,參照有關(guān)國際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。儀器的電流輸出為10 A-100mA，電阻率測(cè)試范圍為10-2-105 cm，直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強(qiáng)，更方便于用戶，而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測(cè)試架可以對(duì)半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進(jìn)行電阻、電阻率多用途的測(cè)量。適用于有機(jī)、無機(jī)半導(dǎo)體粉末材料(包括納米級(jí))的電阻率測(cè)量,也可以測(cè)量固體半導(dǎo)體材料，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測(cè)量、分選和質(zhì)量控制.電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng),高度測(cè)量的測(cè)試臺(tái)和儀器組成.