【官方網(wǎng)址】http://www.henergysolar.com/product/hs-wdi.htm硅片缺陷觀測(cè)儀(HS-WDI)，于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；硅片缺陷觀測(cè)儀-產(chǎn)品特點(diǎn)■適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等；■使硅片缺陷觀察工作簡(jiǎn)單化，準(zhǔn)確化，同時(shí)極大程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度；■實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；■使用1/2 CMOS感光芯片，具有體積小，技術(shù)先進(jìn)，像素較高，成像清晰、線條細(xì)膩、色彩豐富；■傳輸接口為USB2.0高速接口，軟件模塊化設(shè)計(jì)；■有效分辨率為200萬像素；■所配軟件能兼容windows2000和windowsXP操作系統(tǒng)。硅片缺陷觀測(cè)儀-推薦工作條件■溫度：23 2℃■濕度：60%~70%■無強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近典型用戶浙江昱輝、江西塞維ＬＤＫ、常州天合等電子郵件咨詢:Sales@HenergySolar.com