KDK-KDY-2型兩探針電阻率測試儀產(chǎn)品簡介 KDK-KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)儀器采用GB/T1551-1995硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法及美國材料與試驗協(xié)會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法 兩探針法 設(shè)計。它適用于測量橫截面積均勻的圓形、方形、或矩形單晶錠的電阻率。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進(jìn)出，遠(yuǎn)離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀爾帖效應(yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等），對測量的影響較小，因此兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。特別是對多晶材料的測量，由于多晶晶粒間界處，雜質(zhì)局部偏析可能導(dǎo)致電阻率較大變化，這種影響對四探針法更為嚴(yán)重，故不推薦用四探針法測量多晶檢驗棒的電阻率。 本儀器主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試臺及兩探針頭組成。儀器的特點是主機配置雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩(wěn)定。本機配有恒流開關(guān)，在測量某些材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護(hù)被測材料。儀器配置了本公司的專利產(chǎn)品： 小游移探針頭 ，間距為1.59mm的兩探針頭探針游移率在0.2%以下。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性的準(zhǔn)確度。本機可配用KDY測量系統(tǒng)，設(shè)計語言為VC++，可對四探針、兩探針電阻率測量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并修正測量數(shù)據(jù)，特定數(shù)據(jù)存儲格式，顯示變化曲線、正反向電阻率平均值、電阻率的最大值、電阻率最小值，給測量帶來很大方便。兼容性：適用于通用電腦，支持WindowsXP、Vista。