GUT-6000A數(shù)位IC測(cè)試器GUT-6000A數(shù)位IC測(cè)試器特性：Loop測(cè)試自動(dòng)搜尋IC編號(hào)功能開機(jī)自我偵測(cè)診斷功能過(guò)載保護(hù)功能可量測(cè)之IC種類超過(guò)1800種54/74系列TTL及高速CMOS4000及4500系列CMOS最大可測(cè)Pin數(shù):28PinGUT-6000A數(shù)位IC測(cè)試器規(guī)格：規(guī) 格測(cè)試范圍54/74系列TTL及高速CMOS4000及4500系列CMOS55及75系列TTL 量測(cè)種類約1800種 測(cè)試電壓5VDC 測(cè)試時(shí)間高測(cè)試速度，平均0.8秒可完成一個(gè)IC 使用電源交流110V/220V+10%,50/60Hz 附件電源線x1,操作手冊(cè)x1 尺寸及重量335(寬)x105(高)x300(長(zhǎng))mm,約1.5公斤固緯IC測(cè)試儀選型表機(jī) 種 主要功能或用途GUT-6000A數(shù)位IC測(cè)試器GUT-6600掌上型數(shù)位IC測(cè)試器GUT-6001類比IC測(cè)試器