Keithley2612型雙通道系統(tǒng)源表（200V） 主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn):一個緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器接觸檢測功能確保了高速及準(zhǔn)確的測量每秒10,000個讀數(shù)和5,500個源-測量點(diǎn)記錄到存儲器，提供了更快速的測試內(nèi)置的測試腳本處理器(TSP )提供非并行系統(tǒng)的自動化測試，將I-V測試的速度提高到同類產(chǎn)品的二到四倍2600系列提供寬動態(tài)范圍：1pA到10A，1 V到200VTSP-Link 主/從控制架構(gòu)將多臺2600數(shù)字源表無縫地整合成一個系統(tǒng)，將其作為一臺獨(dú)立的儀器進(jìn)行編程和控制免費(fèi)的測試腳本編輯軟件--TestScriptBuilder，可以輕松地創(chuàng)建功能強(qiáng)大的測試腳本，實(shí)現(xiàn)用戶特定的測試功能免費(fèi)的LabTracerTM2.0軟件，無需編程直接得到半導(dǎo)體I-V特性曲線，易學(xué)易用每個40W,3A的通道都是獨(dú)立的，從而保證了高度的測量完整性和配置的靈活性業(yè)界最高的SMU機(jī)架密度特別適合自動化測試的應(yīng)用 2600系列數(shù)字源表系列給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個靈活的、高效的、極具性價比的方案，適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測量測試。基于最初2400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測量技術(shù)，2600系列儀器在I-V測試應(yīng)用中能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測試速度。它們還具備更高的源測量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。專利的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100 s的時間內(nèi)可同時提供I和V測量值(10,000讀數(shù)/s)，源-測量掃描速度為200 s每點(diǎn)(5,500點(diǎn)/s)。這種高速的源-測量能力加上先進(jìn)的自動化特性及軟件工具使得2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測試的理想方案。 相關(guān)應(yīng)用: 對多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測試和特性分析，包括：分立的和無源的元器件雙引腳-電阻、盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻三引腳-雙極型小信號晶體管(BJT)場效應(yīng)晶體管(FET)等并行測試 雙引腳、三引腳元器件陣列簡單集成電路 光學(xué)、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器 集成的器件－小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI)模擬IC射頻集成電路(RFIC)應(yīng)用定制的集成電路系統(tǒng)級芯片(SOC)器件 光電器件如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、顯示器 上述器件的研發(fā)和特性分析