測(cè)試頻率 12Hz~200kHz(504點(diǎn))基本準(zhǔn)確度 0.1%測(cè)試電壓 5mV~1.275V(5mV/step)直流位準(zhǔn)外部2V內(nèi)部0~35V顯示范圍 串/并聯(lián)等效阻抗R0.00001 ~99999k 電容C0.00001pF~99999uF電感L0.00001mH~99999H品質(zhì)因素Q0.0001~9999散逸因素D0.0001~9999阻抗|Z|0.00001 ~99999k 相位(Degree) -180.00 ~180.00 量測(cè)模式 ?R/Q,C/D,C/R,L/Q,Z/ ,L/R等效電路 具串聯(lián)與并聯(lián)兩種方式可供選擇記憶體 100組平均測(cè)試值 1~255次量測(cè)速度 SLOW,MEDIUM以及FAST