X-4顯微熔點(diǎn)儀(數(shù)顯)技術(shù)參數(shù)熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃測(cè)量重復(fù)性： 1℃（在 200℃時(shí)） 2℃（在200～300℃時(shí)）光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X主要特點(diǎn)測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。儀器介紹測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。