*平行平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。平行平晶技術要求組別兩工作面的平行度工作面的平面度2/3d范圍內的平面度I、II0.60.10.05III0.80.10.05IV1.00.10.0515.62，15.7515.87，16.0040.62，40.7540.87，41.0065.62，65.7565.87，66.0090.62，90.7590.87，91.00 *平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。 平面平晶的技術參數(shù)平面直徑d(mm)基本參數(shù)1級2級d范圍內2/3d范圍內d范圍內2/3d范圍內3045600.03----0.10.05801001500.050.032002503000.080.10.150.050.050.090.120.150.20.060.080.1