XPR-213系列偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業(yè)最常用的專業(yè)實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節(jié)，及模糊手動調節(jié)功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值，儀表顯示準確、清晰、穩(wěn)定，對溫度控制可設定程序，設有 上、下 限自動報警裝置，并可隨時檢查設定的溫度數據，是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏 、云母 /4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱臺具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產品。XPR-213V/XPR-213C電腦型/數碼型偏光熔點測定儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產品?？梢栽陲@示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。技術參數：1.目鏡：類 別放大倍數（X）視場（mm）網格目鏡10X 18十字目鏡10X 18分劃目鏡10X 182.物鏡：類 別放大倍數（X）數值孔徑（NA）工作距離（mm）蓋玻片厚度（mm）物鏡4X0.107.80-10X0.254.70-25X0.401.750.1740X0.650.720.1763X0.850.180.173.放大倍數：40X-630X 系統(tǒng)放大倍數：40X-2600X。4.聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22搖出式消色差聚光鏡，中心可調5.起偏鏡：振動方向360 可調，帶鎖緊裝置，可移動光路6.檢偏鏡:可移出光路，旋轉范圍90 內置勃氏鏡，中心、焦距可調7.補償器： 片( 18mm，一級紅，光程差551nm) /4片（ 18mm,光程差147.3nm） 石英楔子(12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級)8.調焦系統(tǒng)：帶限位和調節(jié)松緊裝置的同軸粗微調，格值為0.002mm9.電光源：6V/20W鹵素燈（亮度可調）偏光熱臺介紹：1.顯微精密控溫儀在20X物鏡下工作溫度可達到最高300℃、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫度編程，循環(huán)操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度 0.3℃、記憶點讀數。2.顯微加熱平臺可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調、工作區(qū)溫度梯度低于 0.1起始溫度室溫,工作區(qū)加熱使用面積至少1X1cm,工作區(qū)溫度梯度不超過 0.1oC透光區(qū)域2mm以上，可調顯示溫度與實際溫度誤差不超過 0.2熱臺可以隨載物臺移動熔點測定溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的20X、40X物鏡儀器選配件：1.偏光分析軟件（BT-PG2000） 2.二維測量軟件（BT-2000M） 3.高像素成像系統(tǒng)。