X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它采用上照式，通過三維的移動(dòng)和激光定位，實(shí)現(xiàn)對尺寸范圍較大部件進(jìn)行鍍層厚度和含量的點(diǎn)測量應(yīng)用領(lǐng)域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。技術(shù)指標(biāo)：元素分析范圍：從K到U一次性可同時(shí)分析多層鍍層分析厚度檢測出限最高達(dá)0.01um同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型，最先進(jìn)厚度分析方法多次測量重復(fù)性最高可達(dá)0.01um長期工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）溫度適應(yīng)范圍：15℃~30℃輸出電壓220 5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）配置開放式樣品腔二維移動(dòng)樣品平臺(tái)探測器和X光管上下移動(dòng)可實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)雙激光定位裝置準(zhǔn)直器自動(dòng)切換裝置玻璃屏蔽罩正比計(jì)數(shù)盒探測器信號檢測電子電路高低壓電源X光管計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)樣品腔尺寸：517mm 352mm 150mm外型尺寸：648mm 490mm 544mm聯(lián)系方式聯(lián)系人：侯先生電話：15019420042