特性：選配60度或55度V型及錐型可換測砧。測砧尾端尺寸 5X15mm測量螺紋中徑。噴漆尺架。V型和刀口型可換測砧（選配）： 1、公制螺紋（60度牙型）： F0101：0.4-0.5mm/64-48TPI(螺距） F0102：0.6-0.9mm/44-28TPI(螺距） F0103：1-1.75mm/24-14TPI(螺距） F0104：2-3mm/13-9TPI(螺距） F0105：3.5-5mm/8-5TPI(螺距） F0106：5.5-7mm/4.5-3.5TPI(螺距） 2、威氏螺紋（55度牙型）: F0201：60-48TPI(螺距） F0202：48-40TPI(螺距） F0203：40-32TPI(螺距） F0204：32-24TPI(螺距） F0205：24-18TPI(螺距） F0206：18-14TPI(螺距） F0207：14-10TPI(螺距） F0208：10-7TPI(螺距） F0209：7-4.5TPI(螺距） F0210：4.5-3.5TPI(螺距） 測量范圍：75-100mm 分度值：0.01mm棘輪測力。檢驗千分尺：一、測量面的平行度及平面度采用光學平晶進行檢驗: 光學平面與絲桿測量面或測砧測量面貼合后，由于測量面的不平度，使平晶與測量面之間存在空隙，從而產(chǎn)生干涉帶或干涉環(huán)，在測量面的垂直方向每條干涉帶或干涉環(huán)所代表的平面度誤差為0.3 m.二、測量面的平行度誤差： 測量范圍上限至100mm的千分尺兩側(cè)量面的平行度采用絲桿螺距的1/3或1/4的光學平行平晶來進行檢驗，依次將光學平行平晶防入兩測量面間轉(zhuǎn)動測力裝置。施加5-10N的力,使兩測量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目減少至最少. 測量范圍大于100mm的千分尺,測量面的平行度可用自準直儀進行檢驗. 在距測量邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平行度忽略不計，三、測量面的平面度誤差： 采用二級光學平晶檢驗，應(yīng)調(diào)整光學平晶使測量面上干涉帶或干涉環(huán)。 測量面不應(yīng)出現(xiàn)兩條以上的相同顏色的干涉環(huán)或干涉帶（測量量面的平面度，〈0.6 m） 在距測量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平面度忽略不計。