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供應(yīng)比較儀 新型偏擺檢查儀 花崗石偏擺檢查儀

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規(guī) 格: 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 
單 價(jià): 面議 
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所在地: 全國
有效期至: 長期有效
更新日期: 2010-10-13 20:26
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【供應(yīng)比較儀 新型偏擺檢查儀 花崗石偏擺檢查儀】詳細(xì)說明
比較儀(comparator)利用相對(duì)法進(jìn)行測(cè)量的長度測(cè)量工具,主要由測(cè)微儀和比較儀座組成。測(cè)量時(shí),先用量塊研合組成與被測(cè)基本尺寸相等的量塊組,再用此量塊組使測(cè)微儀指針對(duì)零,然后換上被測(cè)工件,測(cè)微儀指針指示的即為被測(cè)尺寸的偏差值。比較儀和百分表和千分表、杠桿齒輪式測(cè)微儀或扭簧測(cè)微儀等機(jī)械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測(cè)微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級(jí)放大機(jī)構(gòu)是杠桿,其分度值通常為1微米。扭簧測(cè)微儀是一種具有無機(jī)械摩擦放大機(jī)構(gòu)的指示表(圖[扭簧測(cè)微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲,另一端向左扭曲的金屬薄片(寬度為0.1毫米左右,厚度為0.005毫米左右),稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),可動(dòng)支架把上下位移轉(zhuǎn)換為左右位移,使扭簧絲縮短或伸長,并帶動(dòng)指針轉(zhuǎn)一個(gè)角度,從表盤上即可讀出測(cè)桿的位移量。扭簧測(cè)微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達(dá)0.02微米。示值范圍一般為 50個(gè)分度值。機(jī)械式比較儀常用在車間和計(jì)量室測(cè)量工件外徑和厚度等。 新型偏擺儀介紹:配有一對(duì)莫氏4#硬度頂尖,提高了偏擺儀的測(cè)量精度,增大了被測(cè)零件的支撐重量,可測(cè)量高精度零件的徑向、端面和斜向圓跳動(dòng)。表架設(shè)計(jì)精巧合理,上下、前后、左右調(diào)節(jié)平穩(wěn)自如,操作方便,表架鋼性好,提高了檢測(cè)儀器餓靈敏性新型偏擺儀技術(shù)參數(shù): 1 徑向回轉(zhuǎn)精度0.001mm 2 側(cè)導(dǎo)規(guī)在全長上對(duì)兩頂尖連線的平行度0.005mm(A03、B03型)、0.008mm(A05、B05型)、0.02mmA10、B10型 3 被測(cè)零件最大直徑250mm 4 被測(cè)零件最大長度300mm 500mm 1000mm?!”容^儀是利用相對(duì)法進(jìn)行測(cè)量的長度測(cè)量工具,主要由測(cè)微儀和比較儀座組成。測(cè)量時(shí),先用量塊研合組成與被測(cè)基本尺寸相等的量塊組,再用此量塊組使測(cè)微儀指針對(duì)零,然后換上被測(cè)工件,測(cè)微儀指針指示的即為被測(cè)尺寸的偏差值。按測(cè)微儀所采用的放大原理,比較儀可分為機(jī)械式比較儀、光學(xué)比較儀和電學(xué)比較儀3種 機(jī)械式比較儀和百分表和千分表、杠桿齒輪式測(cè)微儀或扭簧測(cè)微儀等機(jī)械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測(cè)微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級(jí)放大機(jī)構(gòu)是杠桿,其分度值通常為1微米。扭簧測(cè)微儀是一種具有無機(jī)械摩擦放大機(jī)構(gòu)的指示表(圖[扭簧測(cè)微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲,另一端向左扭曲的金屬薄片(寬度為0.1毫米左右,厚度為0.005毫米左右),稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),可動(dòng)支架把上下位移轉(zhuǎn)換為左右位移,使扭簧絲縮短或伸長,并帶動(dòng)指針轉(zhuǎn)一個(gè)角度,從表盤上即可讀出測(cè)桿的位移量。扭簧測(cè)微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達(dá)0.02微米。示值范圍一般為 50個(gè)分度值。機(jī)械式比較儀常用在車間和計(jì)量室測(cè)量工件外徑和厚度等。 光學(xué)比較儀利用光學(xué)測(cè)微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式3種。①立式光學(xué)比較儀:又稱立式光學(xué)計(jì),圖3[光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)]為光學(xué)測(cè)微儀的光學(xué)系統(tǒng)。它是按自準(zhǔn)直原理(見自準(zhǔn)直儀)設(shè)計(jì)的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設(shè)置。當(dāng)測(cè)桿上下移動(dòng)時(shí),平面反射鏡繞支點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經(jīng)直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發(fā)生偏移。偏移量的大小與測(cè)桿移動(dòng)距離成比例。光學(xué)測(cè)微儀的分度值為1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學(xué)計(jì)適宜在計(jì)量室使用,測(cè)量范圍為0~180毫米,常用于檢定量塊和光滑量規(guī)以及測(cè)量工件的外徑、厚度。②臥式光學(xué)比較儀:又稱臥式光學(xué)計(jì),其工作原理與立式光學(xué)計(jì)相同,測(cè)量范圍為0~500毫米,適用于在計(jì)量室測(cè)量較大的或在立式光學(xué)計(jì)上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測(cè)孔附件測(cè)量孔徑。③影屏式光學(xué)比較儀:又稱投影光學(xué)計(jì),其光學(xué)系統(tǒng)與立式光學(xué)計(jì)相似,但刻度尺影像經(jīng)投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為0.2微米的光學(xué)系統(tǒng)采用多次反射以增大光學(xué)杠桿的放大比。此外,還有用光波干涉法測(cè)量的接觸式干涉比較儀,其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。
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