書名:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第四版）作者:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社　編出版社:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版日期:2007年9月ISBN:9787506645683頁數(shù):750開本:16市場價格:￥200元會員價格:￥163.2元VIP價格:￥158元贈送積分:200分版次: 瀏覽次數(shù):1 內(nèi)容簡介隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，對電工電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)和必要的著火危險試驗(yàn)是保證其在生產(chǎn)、運(yùn)輸、使用等各環(huán)節(jié)中都安全可靠所必不可少的重要環(huán)節(jié)，因此環(huán)境試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)設(shè)備、各項(xiàng)著火危險試驗(yàn)是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。多年來我國制修訂了很多這方面的國家標(biāo)準(zhǔn)，我們陸續(xù)出版過電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方面標(biāo)準(zhǔn)的系列匯編，受到讀者歡迎。截至目前為止，該方面國家標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)147項(xiàng)，其中2005年以來新制修訂的電工電子環(huán)境試驗(yàn)、著火危險試驗(yàn)及特殊環(huán)境條件方面的國家標(biāo)準(zhǔn)共有59項(xiàng)，并廢止17項(xiàng)（不包括代替）。這些標(biāo)準(zhǔn)受到廣大電工電子產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、檢驗(yàn)、運(yùn)輸、使用人員的關(guān)注。本冊為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第四版）》，共匯集了截至2007年6月底我國正式發(fā)布實(shí)施且現(xiàn)行有效的電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件試驗(yàn)方面的國家標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)68項(xiàng)，涉及總則、術(shù)語、各種試驗(yàn)方法、試驗(yàn)導(dǎo)則及環(huán)境參數(shù)測量方法等。其中有19項(xiàng)是2005年以來新制修訂的。GB/T10593.3涉及環(huán)境參數(shù)的測量方法，為方便讀者查用，此次未收入本冊，移入《電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第三版）》中。本匯編收集的國家標(biāo)準(zhǔn)均為推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)（目錄中標(biāo)明GB/T），標(biāo)準(zhǔn)年號用四位數(shù)字表示。鑒于部分國家標(biāo)準(zhǔn)是在國家標(biāo)準(zhǔn)清理整頓前出版的，現(xiàn)尚未修訂，故正文部分仍保留原樣；讀者在使用這些國家標(biāo)準(zhǔn)時，其屬性以本目錄標(biāo)明的為準(zhǔn)（標(biāo)準(zhǔn)正文 引用標(biāo)準(zhǔn) 中的標(biāo)準(zhǔn)的屬性請讀者注意查對）。由于所收錄標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年代不盡相同，我們對標(biāo)準(zhǔn)中所涉及到的有關(guān)量和單位的標(biāo)注方法未作統(tǒng)一改動。目錄GB/T2421－1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則GB/T2422－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語GB/T2423.1－2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫GB/T2423.2－2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.3－2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)GB/T2423.41993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.5－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊GB/T2423.6－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞GB/T2423.7－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）GB/T2423.8－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落GB/T2423.10－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）GB/T2423.15－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度GB/T2423.16－1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉GB/T2423.17－1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法GB/T2423.18－2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）GB/T2423.21－199l電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法GB/T2423.22－2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化GB/T2423.23－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q：密封GB/T2423.24－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射GB/T2423.25－1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)GB/T2423.26－1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)GB/T2423.27－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)GB/T2423.28－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)T：錫焊GB/T2423.30－1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬GB/T2423.31－1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法GB/T2423.32－1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法（GB/T2423.33－2005　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)GB/T2423.34－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)GB/T2423.35－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗(yàn)GB/T2423.36－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗(yàn)GB/T2423.37－2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn)GB/T2423.38－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則GB/T2423.39－1990　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ee：彈跳試驗(yàn)方法GB/T2423.40－1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱GB/T2423.41－1994電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法GB/T2423.42－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗(yàn)方法GB/T2423.43－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則GB/T2423.45－1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)z/ABDM：氣候順序GB/T2423.47－1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fg：聲振GB/T2423.48－1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ff：振動－－時間歷程法GB/T2423.49－1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe：振動－－正弦拍頻法GB/T2423.50－1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)GB/T2423.51－2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke：流動混合氣體腐蝕試驗(yàn)GB/T2423.52－2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)77：結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊GB/T2423.53－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)xb：由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損GB/T2423.54－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)xc：流體污染GB/T2423.55－2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eh：錘擊試驗(yàn)GB/T2423.56－2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字控制）和導(dǎo)則GB/T2424.1－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.2－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.5－2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)GB/T2424.6－2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)GB/T2424.7－2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B（帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測量GB/T2424.10－1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則