紅外顯微鏡成像系統(tǒng)參數(shù)_optotherm鎖相熱成像-立特為智能電話：l52l9504346 （溫先生）

關(guān)鍵詞： ?Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1.?它的應用非常廣泛，去封裝的芯片分析，未去封裝的芯片分析，電容，F(xiàn)PC,甚至小尺寸的電路板分析（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在對樣品的不同階段都可以使用thermal技術(shù)進行分析，如下圖示例，樣品電路板漏電定位到某QFN封裝器件漏電，將該器件拆下后發(fā)現(xiàn)漏電改善，對該器件焊引線出來，未開封定位為某引腳，開封后扎針上電再做分析，進一步確認為晶圓某引線位置漏電導致，如有需要可接著做SEM,FIB等分析。

?

未開封器件分析

?

開封器件分析

2. 它能偵測的半導體缺陷也非常廣泛，微安級漏電，低阻抗短路，ES擊傷，閂鎖效應點，金屬層底部短路等等，而電容的漏電和短路點定位，F(xiàn)PC,PCB,PCBA的漏電，微短路等也能夠精確定位

?

lock-in鎖相分析

?

開封芯片漏電分析

?

GAN-SIC器件

3，它是無損分析：作為日常的失效分析，往往樣品量稀少，這就要求失效分析技術(shù)最好是無損的，而對于某些例如陶瓷電容和FPC的缺陷，雖然電測能測出存在缺陷，但是對具體缺陷位置，市場上的無損分析如XRAY或超聲波，卻很難進行定位，只能通過對樣品進行破壞性切片分析，且只能隨機挑選位置，而通過Thermal 技術(shù)，你需要的只是給樣品上電，就可以對上述兩種缺陷進行定位

?

FPC缺陷分析

?

電容缺陷分析

4,鎖相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：利用鎖相技術(shù)，將溫度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以偵測uA級漏電流和微短路缺陷，遠由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點偵測法（0.1℃分辨率，mA級漏電流熱點）

?

5，系統(tǒng)能夠測量芯片等微觀器件的溫度分布，提供了一種快速探測熱點和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示出缺陷的位置，在半導體領(lǐng)域

?

在集成電路操作期間，內(nèi)部結(jié)自加熱導致接合處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接合處本身，并且熱從接合部向外傳導到封裝中。因此，器件操作期間的精確結(jié)溫測量是熱表征的組成部分。

?

芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱分析工具（如 圖像序列分析）可用于評估樣品由內(nèi)到外的熱量傳遞過程，以便確定管芯接合的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)作為一臺專業(yè)為缺陷定位的系統(tǒng)，專為電子產(chǎn)品FA設(shè)計，通過特別的LOCK-IN技術(shù)，使用LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率提升到0.001℃（1mK），同時光學分辨率最高達到5um,尤其其軟件系統(tǒng)經(jīng)過多年的優(yōu)化，具有非常易用和實用，以下是OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)分析過程的說明視頻

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited?‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作為Optotherm公司中國代表（獨家代理），在深圳設(shè)立optotherm紅外熱分析應用實驗室，負責該設(shè)備的演示和銷售，如有相關(guān)應用，可提供免費評估測試服務(wù)。

深圳市立特為智能有限公司LEADERWE立為包括立為智能國際有限公司和深圳市立特為智能有限公司，是一家專業(yè)提供電子、材料等領(lǐng)域分析及檢測設(shè)備的綜合服務(wù)供應商！

LEADERWE 立為擁有一批有著豐富經(jīng)驗的銷售人員以及專業(yè)的服務(wù)人員，不僅為您提供高端實用的設(shè)備，更能為您完整的方案及相應的應用技術(shù)支持。

歷經(jīng)多年耕耘，已獲北京大學、富士康、華為、步步高、方正集團、美維集團、新能源集團等等超過兩百多家客戶的信賴與認可。

高端適用的設(shè)備，前沿領(lǐng)先的技術(shù)，高效熱情的服務(wù)，LEADERWE 立為努力成為廣大客戶最信賴的科學設(shè)備供應商，愿與我們的供應商及客戶共謀發(fā)展、共同迎接機遇與挑戰(zhàn)。

中國主要辦事處：深圳、香港、合肥。

深圳市立特為智能有限公司

聯(lián)：溫先生

：l52l9504346

QQ：3054l5242

固話：0755-21035438

郵箱：info@leaderwe?

：深圳龍華區(qū)五和大道錦繡科學園11棟225
用紅外熱像儀檢測散熱效率
紅外熱像儀是一種采用非接觸式測溫的設(shè)備，通過對物體表面的熱分布成像和分析，可迅速準確地發(fā)現(xiàn)物體的熱缺陷。在電子和半導體行業(yè)的溫度分布、功耗設(shè)計和研究、散熱效果分析、PCB布局優(yōu)化、維修檢測等方面，靈活使用紅外熱像儀，研發(fā)人員能顯著提高散熱設(shè)計各個環(huán)節(jié)的工作效率。
紅外熱像儀在使用時有如下特點：
1）非接觸，不用擔心觸電風險；
2）“看見”熱，比經(jīng)驗和直覺耗時更少，定位更準確
3）“看”小物體的熱成為可能
一、快速評估熱負載
紅外熱像儀可對產(chǎn)品的溫度分布清晰直觀成像，幫助研發(fā)人員精準評估熱分布，定位熱負荷過大區(qū)域，讓后續(xù)的散熱設(shè)計更有針對性和目的性。
二、散熱方案評估驗證
設(shè)計階段會有很多種散熱方案，紅外熱像儀可幫助研發(fā)人員快速、直觀地評估不同散熱方案效果，從而確定技術(shù)方案。
三、散熱材料選擇
確定散熱方案后，研發(fā)人員需對供應商提供的不同規(guī)格的散熱材料進行測試篩選，達到散熱指標和成本的均衡。比如在等電子產(chǎn)品中，通常會使用鋁箔貼片、石墨散熱薄膜等柔性導熱材料用于散熱，這些材料不同的品牌、工藝和規(guī)格，散熱效果也會不一樣，利用紅外熱像儀，研發(fā)人員可快速評估散熱效果，綜合考慮性能指標和成本確定合適的材料。由iPhone和小米引領(lǐng)的石墨散熱膜有效的解決了高性能的散熱問題，并成為新的研究和投資熱點。
紅外顯微鏡成像系統(tǒng)參數(shù)_optotherm鎖相熱成像-立特為智能發(fā)現(xiàn)這個問題。諸如此類的質(zhì)量監(jiān)測使用傳統(tǒng)的接觸式溫度傳感器更不易檢測出來。因此，紅外熱像儀有助于在眾多產(chǎn)品報廢前更正產(chǎn)品發(fā)生的變化，提升產(chǎn)品質(zhì)量。紅外熱像儀悘用，紅外顯微鏡成像系統(tǒng)參數(shù)_optotherm鎖相熱成像-立特為智能探測器為間接數(shù)字化x線成像，其基本結(jié)構(gòu)為表面是一層閃爍體材料（碘化絕或硫氧化），再下一層是以非晶體硅為材料的光電二極管電路，最底層為電荷讀出電路。位于探測器表面，紅外顯微鏡成像系統(tǒng)參數(shù)_optotherm鎖相熱成像-立特為智能儀采用先進的紅外成像技術(shù)，能夠偵測到人體的紅外輻射或熱量，基于檢測的溫差成像并測溫，采用先進的算法，使得測量的人體溫度準確度為±0.4℃；同時具備畫面清晰的特點，紅外顯微鏡成像系統(tǒng)參數(shù)_optotherm鎖相熱成像-立特為智能現(xiàn)場的其他設(shè)備的電磁輻射影響嗎？紅外熱像儀是全被動接收設(shè)備，自身沒有主動輻射信號，對于現(xiàn)場的其他設(shè)備或產(chǎn)品沒有干擾。外部電磁輻射影響：目前只發(fā)現(xiàn)電解鋁的大電流整。