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NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀

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所在地: 北京
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更新日期: 2019-04-26 10:34
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公司基本資料信息
 
 
 
【NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀】詳細說明
?簡介:
美國AEP Technology公司主要從事半導(dǎo)體檢測設(shè)備, MEMS檢測設(shè)備, 光學(xué)檢測設(shè)備的生產(chǎn)制造,是表面測量解決方案行業(yè)的領(lǐng)先供應(yīng)者,專門致力于材料表面形貌測量與檢測。公司始終致力于微觀表面“三維”檢測技術(shù)和設(shè)備的研發(fā)及推廣,歷經(jīng)近十年努力,已為30多個國家提供NanoMap系列三維表面形貌測量系統(tǒng)。
NanoMap-LS三維表面形貌/輪廓儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,臺階高度,二維粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三維粗糙度(Sa,Sq,Smax),劃痕截面面積,劃痕體積,磨損面積,磨損體積,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息,或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將臺階儀帶入了另一個高精度測量的新時代。
特點:
1.???? 全自動軟件控制
2.???? 0.1到100 mg接觸力
3.???? 垂直分辨率可達0.1nm 。
4.???? 每次掃描最少1 0 0點,最多可達1 5 0 ,0 0 0數(shù)據(jù)點
5.???? 一體化彩色攝像機在掃描同時可直接觀察樣品
6.???? 簡單一鍵操作與用戶友好的操作界面
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應(yīng)用領(lǐng)域:
測量表面可以覆蓋多種材料表面:金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,對于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔(dān)心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高,穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類產(chǎn)品最低的。
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主要技術(shù)參數(shù)
垂直分辨率: 0.1nm
重復(fù)性: 0.54 nm(1Sigema @1um)
垂直范圍: 524um(1mm可選)
掃描范圍: 150mm x 150mm
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地址:北京市海淀區(qū)清河三街 95 號同源大廈929 室,100085
電話:010-62961582,82718430
傳真:010-82718430???
網(wǎng)址:www.ychdbj.com
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