供應(yīng)DDR2單面內(nèi)存條測試治具 產(chǎn)品特點及性能參數(shù): 產(chǎn)品通用程度高，只要換IC限位框，即可測試所有內(nèi)存IC（寬度≤12MM）； 有球無球均可測試（只需更換上蓋的IC壓板）； 采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便； 上蓋的IC壓板采用擺動式結(jié)構(gòu)，下壓平穩(wěn)，保證IC的壓力均勻，不移位； 探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠，而不會損壞錫球； 高精度的定位槽，保證IC定位精確，測試效率高； 測試準確性高，大大減少誤判率； 采用進口雙頭針，探針可更換，維修方便，成本低； 絕緣材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框鋁合金材料制作； 測試頻率可達1066MHz； 測試壽命長，有效測試10萬次以上； 內(nèi)存條測試治具測試規(guī)格：DDR2X8 一次性可測試8顆內(nèi)存顆粒； 可以定制單顆內(nèi)存IC與服務(wù)器主控IC的測試治具 可以免費提供相關(guān)的技術(shù)支持。 產(chǎn)品服務(wù)： 半年免費保修（人為損壞除外）。 保修期外，免費維修，如果需換件，只收材料成本費。 可以免費提供相關(guān)的技術(shù)支持。