LED標準現(xiàn)狀1.國外相關(guān)標準現(xiàn)狀嚴格地說，國外目前沒有專門命名為半導(dǎo)體照明的標準，只有有關(guān)普通LED的測試標準和與普通光源有關(guān)的照明方面的標準。普通LED的測試標準有： IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3：光電子器件 顯示用發(fā)光二極管空白詳細標準（1998-02）CIE/ISOLED強度測試標準國際照明委員會（CIE）1997年發(fā)表CIE127-1997LED測試方法，把LED強度測試確定為平均強度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結(jié)構(gòu)和探測器大小，這樣就為LED準確測試比對奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE127－1997測試方法并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展，許多新的LED技術(shù)特性CIE127-1997LED測試方法沒有涉及。目前，隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，發(fā)達國家非常重視LED測試標準的制訂。如美國國家標準檢測研究所（NIST）正在開展LED測試方法的研究，準備建立整套的LED測試方法和標準。同時，許多國外大公司的研究和開發(fā)人員正在積極參與國家和國際專業(yè)化組織，制訂半導(dǎo)體照明測試標準。如2002年10月28日，美國Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán)，并準備聯(lián)合制訂功率型LED標準，以推動市場應(yīng)用。2.國內(nèi)相關(guān)標準現(xiàn)狀國內(nèi)目前沒有較全面的LED及其照明器具國家和行業(yè)測試標準，也沒有相應(yīng)的檢測系統(tǒng)。在生產(chǎn)中企業(yè)往往以樣管封存的參數(shù)為對比依據(jù)。不同性質(zhì)的相關(guān)生產(chǎn)廠家、用戶、研究所、高校經(jīng)常對此存在很大的爭議，這種在學(xué)術(shù)界內(nèi)部、企業(yè)界內(nèi)部及相互之間對標準認識的不一致嚴重阻礙了產(chǎn)品的應(yīng)用和產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展。雖然有一些企業(yè)和研究機構(gòu)采購了部分檢測設(shè)備，由于缺少專業(yè)的研究，導(dǎo)致設(shè)備水平低、儀器配套性差、檢測精度低，而且檢測結(jié)果相互之間不好對比，測試項目不能滿足用戶需要。國內(nèi)專業(yè)檢測機構(gòu)曾經(jīng)開展過一些LED的測試研究工作，但由于條件所限，尚不能形成完整的檢測評價系統(tǒng)，檢測水平與國外發(fā)達國家有較大差距。從八十年代初起，我國相繼制定了一些與發(fā)光二極管相關(guān)的行業(yè)標準和國家標準。國內(nèi)現(xiàn)有與LED測試有關(guān)的標準有：（1）Sj2353.3-83半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法（2）Sj2658－86半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測試方法（3）GB/T12561 1990發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范（4）GB/T15651－1995半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路：光電子器件（國家標準）（5）GB/T18904.3 2002半導(dǎo)體器件12-3:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范（采用IEC60747-12-3:1998）（6）半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5－2部分：光電子器件基本額定值和特性（國家標準；制訂中）（7）半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5－3部分：光電子器件測試方法（國家標準；制訂中）（8）半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法（中國光協(xié)光電器件分會標準；2002)