Thick800X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它不同于EDX600B的下照式和封閉樣品腔的設計，而是采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現(xiàn)對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。技術指標：元素分析范圍：從K到U一次性可同時分析多層鍍層分析厚度檢測出限最高達0.01um同時可分析多達5層以上鍍層相互獨立的基體效應校正模型，最先進厚度分析方法多次測量重復性最高可達0.01um長期工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）溫度適應范圍：15℃~30℃輸出電壓220 5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）配置開放式樣品腔二維移動樣品平臺探測器和X光管上下移動可實現(xiàn)三維移動雙激光定位裝置準直器自動切換裝置玻璃屏蔽罩正比計數(shù)盒探測器信號檢測電子電路高低壓電源X光管計算機及噴墨打印機樣品腔尺寸：517mm 352mm 150mm外型尺寸：648mm 490mm 544mm