ED2000(X射線熒光光譜儀) ED2000采用全數(shù)字化電子線路設(shè)計(jì)，其緊密耦合的X射線光學(xué)系統(tǒng)和Pentafet探測(cè)器專利技術(shù)實(shí)現(xiàn)了最高的計(jì)數(shù)率、最佳的分辨率和最低的檢出下限。如分析土壤中的有害重金屬元素Cd時(shí)，檢出下限可達(dá)0.5ppm。Pentafet專利技術(shù)克服了能量色散技術(shù)中，元素分辨能力隨計(jì)數(shù)率增高而下降的缺點(diǎn)，即使在較高計(jì)數(shù)情況下，仍可以得到優(yōu)良的元素分辨率。ED2000數(shù)字化電路技術(shù)提高了信號(hào)處理速度，縮短了分析時(shí)間。ED2000的最大計(jì)數(shù)率高于50,000cps；在17,000cps計(jì)數(shù)率的情況下，分辨率優(yōu)于140eV。