產(chǎn)品介紹：135、9020、0716詹HP4284A美國惠普精密LCR測(cè)試儀 美國惠普HP4284a精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器.它們通過提供精確、高吞吐量的測(cè)試方法來改變?cè)馁|(zhì)量.20hz到1mhz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào),使HP 4284a的測(cè)試元件時(shí)符合最通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如iec/mil標(biāo)準(zhǔn)(國際電工委員會(huì)或美國軍用標(biāo)準(zhǔn)),且工作在模擬所使用的工作條件下.無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn),HP 4284a能滿足全部lcr測(cè)量要求. 技術(shù)指標(biāo) (全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料) 被測(cè)參數(shù)z|-θ,|y|-θ,r-x,g-b;c-d,q,esr, g,rp;l-d,q,esr,g,rp;偏差和%偏差 測(cè)量電路模式:串聯(lián)和并聯(lián) 量程轉(zhuǎn)換:自動(dòng)和手動(dòng) 觸發(fā):內(nèi)部、外部、手動(dòng)和總線(HP-ib) 延遲時(shí)間:0~60.000s,以1ms步進(jìn) 測(cè)量終端:四端對(duì) 測(cè)試電纜長(zhǎng)度: HP4284a:標(biāo)準(zhǔn):0和1m;帶選件006時(shí):0、1、2和4m 積分時(shí)間:短、中等和長(zhǎng) 取平均:1~256,可程控 測(cè)試信號(hào) HP 4284a:20hz~1mhz±0.01%,8610個(gè)可選擇頻率 測(cè)試信號(hào)方式 標(biāo)準(zhǔn):分別在開路或短路的測(cè)量端,而不是在被測(cè)件上對(duì)選定的 電壓或電流編程 恒定:維持被測(cè)件上選定的電壓或電流,而與器件阻抗和變化無關(guān).