Optotherm IS640熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)多少錢-立特為智能電話：l52l9504346 （溫先生）

關(guān)鍵詞： ?Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1.?它的應(yīng)用非常廣泛，去封裝的芯片分析，未去封裝的芯片分析，電容，F(xiàn)PC,甚至小尺寸的電路板分析（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在對樣品的不同階段都可以使用thermal技術(shù)進(jìn)行分析，如下圖示例，樣品電路板漏電定位到某QFN封裝器件漏電，將該器件拆下后發(fā)現(xiàn)漏電改善，對該器件焊引線出來，未開封定位為某引腳，開封后扎針上電再做分析，進(jìn)一步確認(rèn)為晶圓某引線位置漏電導(dǎo)致，如有需要可接著做SEM,FIB等分析。

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未開封器件分析

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開封器件分析

2. 它能偵測的半導(dǎo)體缺陷也非常廣泛，微安級漏電，低阻抗短路，ES擊傷，閂鎖效應(yīng)點，金屬層底部短路等等，而電容的漏電和短路點定位，F(xiàn)PC,PCB,PCBA的漏電，微短路等也能夠精確定位

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lock-in鎖相分析

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開封芯片漏電分析

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GAN-SIC器件

3，它是無損分析：作為日常的失效分析，往往樣品量稀少，這就要求失效分析技術(shù)最好是無損的，而對于某些例如陶瓷電容和FPC的缺陷，雖然電測能測出存在缺陷，但是對具體缺陷位置，市場上的無損分析如XRAY或超聲波，卻很難進(jìn)行定位，只能通過對樣品進(jìn)行破壞性切片分析，且只能隨機挑選位置，而通過Thermal 技術(shù)，你需要的只是給樣品上電，就可以對上述兩種缺陷進(jìn)行定位

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FPC缺陷分析

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電容缺陷分析

4,鎖相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：利用鎖相技術(shù)，將溫度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以偵測uA級漏電流和微短路缺陷，遠(yuǎn)由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點偵測法（0.1℃分辨率，mA級漏電流熱點）

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5，系統(tǒng)能夠測量芯片等微觀器件的溫度分布，提供了一種快速探測熱點和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示出缺陷的位置，在半導(dǎo)體領(lǐng)域

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在集成電路操作期間，內(nèi)部結(jié)自加熱導(dǎo)致接合處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接合處本身，并且熱從接合部向外傳導(dǎo)到封裝中。因此，器件操作期間的精確結(jié)溫測量是熱表征的組成部分。

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芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱分析工具（如 圖像序列分析）可用于評估樣品由內(nèi)到外的熱量傳遞過程，以便確定管芯接合的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)作為一臺專業(yè)為缺陷定位的系統(tǒng)，專為電子產(chǎn)品FA設(shè)計，通過特別的LOCK-IN技術(shù)，使用LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率提升到0.001℃（1mK），同時光學(xué)分辨率最高達(dá)到5um,尤其其軟件系統(tǒng)經(jīng)過多年的優(yōu)化，具有非常易用和實用，以下是OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)分析過程的說明視頻

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited?‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作為Optotherm公司中國代表（獨家代理），在深圳設(shè)立optotherm紅外熱分析應(yīng)用實驗室，負(fù)責(zé)該設(shè)備的演示和銷售，如有相關(guān)應(yīng)用，可提供免費評估測試服務(wù)。

深圳市立特為智能有限公司LEADERWE立為包括立為智能國際有限公司和深圳市立特為智能有限公司，是一家專業(yè)提供電子、材料等領(lǐng)域分析及檢測設(shè)備的綜合服務(wù)供應(yīng)商！

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一文讀懂紅外傳感器之紅外熱成像儀
我們了解到，紅外熱成像儀是紅外傳感器的諸多應(yīng)用中非常重要的一種應(yīng)用，從最初僅限于作為軍|用高科技產(chǎn)品，現(xiàn)在已經(jīng)越來越普遍地走向工業(yè)和民用市場。

在電影《蒸發(fā)密令》里有這樣一個鏡頭，施瓦辛格為了躲避持有熱成像儀的對手的追殺，跳進(jìn)了裝滿水的浴缸里，以便將自己的溫度和周圍保持一致，從而試圖遮蔽自己的紅外信號源，避免熱成像儀的偵查。
要想知道熱像儀為什么這樣神奇，首先還得從它的工作原理說起。

紅外熱成像儀的工作原理

所有高于絕對零度（-273℃）的物體都會發(fā)出紅外輻射。利用某種特殊的電子裝置將物體表面的溫度分布轉(zhuǎn)換成人眼可見的圖像，并以不同顏色顯示物體表面溫度分布的技術(shù)稱之為紅外熱成像技術(shù)，這種電子裝置稱為紅外熱成像儀。

紅外熱成像儀是利用紅外探測器、光學(xué)成像物鏡和光機掃描系統(tǒng)接受被測目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測器的光敏元上，在光學(xué)系統(tǒng)和紅外探測器之間，有一個光機掃描機構(gòu)對被測物體的紅外熱像進(jìn)行掃描，并聚焦在單元或分光探測器上，由探測器將紅外輻射能轉(zhuǎn)換成電信號，經(jīng)放大處理、轉(zhuǎn)換或標(biāo)準(zhǔn)視頻信號通過電視屏或監(jiān)測器顯示紅外熱像圖。

這種熱像圖與物體表面的熱分布場相對應(yīng)，但實際被測目標(biāo)物體各部分紅外輻射的熱像分布圖由于信號非常弱，與可見光圖像相比，缺少層次和立體感，因此，在實際過程中為更有效地判斷被測目標(biāo)的紅外熱分布場，常采用一些輔助措施來增加儀器的實用功能，如圖像亮度、對比度的控制，實標(biāo)校正，偽色彩描繪等高線和直方進(jìn)行數(shù)學(xué)運算和處理等。
需要說明的是，同一目標(biāo)的熱圖像和可見光圖像是不同的，它不是人眼所能看到的可見光圖像，而是目標(biāo)表面溫度分布圖像，或者說，紅外熱圖像是人眼不能直接看到目標(biāo)的表面溫度分布，變成人眼可以看到的代表目標(biāo)表面溫度分布的熱圖像。

Optotherm IS640熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)多少錢-立特為智能是否會影響準(zhǔn)確測量？下雨本身對測量精度影響不大，但被測物體表面附著的水滴可能造成熱量的異常流失，使測量溫度不能準(zhǔn)確反映物體的正常表面溫度。同時，下雨環(huán)境對儀器本，Optotherm IS640熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)多少錢-立特為智能個應(yīng)用是監(jiān)測整個傳送帶烤箱烘烤帶的溫度一致性。如果電烤箱內(nèi)部的加熱元件發(fā)生故障，或整個氣體射流沖擊烤箱受熱不均，產(chǎn)品流一側(cè)的溫度可能會降低。使用紅外熱像儀可迅速，Optotherm IS640熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)多少錢-立特為智能度達(dá)到50℃——或是沸水實際溫度的一半。2個減半時間常數(shù)后，溫度達(dá)到75c；3個減半時間常數(shù)后，溫度達(dá)到87.5℃，以此類推，每經(jīng)過一個半躍階，就越接近100℃，Optotherm IS640熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)多少錢-立特為智能校正系數(shù)線性區(qū)內(nèi)。2、熱像儀散熱對擋板校正有什么影響？紅外熱像儀經(jīng)常在密閉的環(huán)境中使用，系統(tǒng)散熱效果不佳，紅外熱像儀的功耗幾乎全部轉(zhuǎn)化為熱量，在系統(tǒng)內(nèi)堆積，隨著。